Artículos

  • Analytical potential of rf-PGD-TOFMS for depth profiling of an oxidized thin film composite [2016]

    Categoría:
    Artículos
    Autores:
    Cristina González Gago , Jorge Pisonero Castro , R. Sandín , José Félix Fuertes Martínez , Alfredo Sanz Medel , Nerea Bordel García
    Fecha:
    01 de Enero de 2016
    Es parte de:
    Journal of Analytical Atomic Spectrometry