Artículos

  • Analytical potential of rf-PGD-TOFMS for depth profiling of an oxidized thin film composite [2016]

    Categoría:
    Artículos
    Autores:
    Nerea Bordel García , Alfredo Sanz Medel , José Félix Fuertes Martínez , R. Sandín , Jorge Pisonero Castro , Cristina González Gago
    Fecha:
    01 de Enero de 2016
    Es parte de:
    Journal of Analytical Atomic Spectrometry